도막 두께 검사는 금속 산업에서 코팅 표면의 품질과 기능성, 나아가 장기적인 내구성을 확보하는 데 핵심적인 역할을 합니다. Micro-Epsilon사의 백색광 간섭계 interferoMETER IMS5200 시리즈는 도막 두께를 나노미터 수준으로 측정하며, 이를 통해 생산 공정에서 최적의 부식 방지 성능을 확보하고 재료 사용을 보다 효율적으로 관리할 수 있도록 지원합니다.

투명 및 반사 코팅층의 정확한 두께 측정

백색광 간섭계는 광대역 빛을 도장된 금속 표면에 조사하고, 도막 표면과 하부 금속층에서 반사된 신호 간의 간섭을 분석합니다. 그리고 두 반사 신호 사이의 거리 값을 기반으로 정확한 도막 두께를 산출합니다. 따라서 매우 얇은 코팅층은 물론, 투명하거나 반사 특성이 있는 코팅에서도 두께를 아주 정확히 측정할 수 있습니다. 또한 인라인 방식의 비접촉 측정이 가능하므로, 생산 중에도 도막 품질을 안정적으로 관리할 수 있습니다.