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confocalDT

고정밀 변위 및 두께 측정

confocalDT

전세계적으로 가장 다양한 센서 포트폴리오 보유

confocalDT

고정밀 측정에 적합

confocalDT

진공 호환형 센서

공초점변위센서를 이용한 변위, 거리, 위치 측정

색수차 (Chromatic)원리를 이용한 공초점변위센서, confocalDT는 거리와 두께를 빠르게 측정합니다. 특히 센서와 컨트롤러의 인터페이스가 다양하기 때문에 반도체, 글라스, 의료 공학, 플라스틱 생산 분야 등과 같은 다양한 산업 분야에 사용됩니다.

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특징

  1. 빠른 속도와 높은 분해능으로 거리 및 두께 측정
  2. 자동화 및 생산 제어에 적합
  3. 표면과 무관하게 측정 가능하며 반사 및 글라스 표면에도 사용 가능
  4. 아주 작고 일관된 스폿 사이즈
  5. 나노미터 분해능
  6. 이상적인 신호 대 잡음비 (Signal-to-noise ratio)를 갖춘 산업용 등급의 컨트롤러
  7. 수동소자 (Passive component)로 이루어진 측정 시스템
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Micro-Epsilon Korea Ltd.
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대부분의 표면에서 변위 및 거리를 정확하게 측정

색수차 (Chromatic)원리를 이용해 확산 및 반사 표면에서도 변위 및 거리를 매우 정밀하게 측정할 수 있습니다. 특히 측정 스폿의 크기가 매우 작아 초소형 대상체를 검출할 수 있으며, 레이저가 축 방향으로 조사되기 때문에 음영이 발생하지 않아 슬리브와 홈이 있는 영역 모두 측정할 수 있습니다. 그 밖에도 90° 타입의 센서를 사용할 경우, 홀과 오목한 영역의 내부를 측정하여 기하학적인 특징을 모두 검출할 수 있습니다.

별도 조정 가능한 마운팅 어댑터를 이용한 센서의 얼라인먼트

정확도를 최대치로 끌어올리기 위해 공초점변위센서는 타겟에 최대한 수직으로 정렬되어야 합니다. 또한 마운팅 어댑터는 별도로 조정 가능하기에 모든 공초점변위센서를 타겟에 가장 적합하게 얼라인 할 수 있고, 더 나아가 센서를 기기에 설치한 후에도 얼라인 할 수 있습니다. 만일 산업용 어댑터를 사용할 경우, 센서를 측정 타겟에 맞게 기울일 수 있을 뿐만 아니라 X, Y축으로 이동할 수 있습니다.

New: 별도 조정 가능한 마운팅 어댑터를 이용한 양면 두께 측정

JMA-Thickness는 총 2개의 조정 가능한 마운팅 어댑터로 구성되어 있으며, 양면 두께 측정을 위해 사용되는 센서를 얼라인 하는 데 사용됩니다. 이는 곧 측정 포인트가 광축에 맞게 정확히 정렬됨을 의미하며 이로써 고정밀한 두께 측정을 실현할 수 있게 됩니다. JMA-Thickness는 기계 및 공장에 설치되는 데 있어 매우 이상적이며 사전 조립된 마운팅 플레이트를 이용해 빠르고 쉬운 설치 역시 가능합니다.

투명 소재의 단면 두께 측정

색수차 (Chromatic)원리를 이용해 글라스와 같은 투명한 소재의 두께를 측정할 수 있습니다. 하나의 센서만으로도 두께 값을 마이크로미터의 정밀도로 도출할 수 있으며 컨트롤러가 제공하는 데이터베이스는 편집 및 확장 가능합니다. 굴절률과 같은 재질별 파라미터는 웹 인터페이스를 이용해 설정할 수 있으며 멀티 피크 측정을 이용해 최대 6개의 피크를 평가할 수 있어 접합유리 (Laminated glass)와 같이 여러 층으로 이루어진 타겟을 측정할 수 있습니다.

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진공 환경 내 사용 가능

confocalDT 센서는 수동소자 (Passive component)로 이루어져있어 열을 발생시키지 않습니다. 특히 진공 환경에서 사용하기 위해 Micro-Epsilon사는 각 사양 (클린룸, 진공, UHV)에 적합한 센서, 케이블, 액세서리를 제공합니다. 현재 사용 가능한 진공 호환형 센서는 측정 범위가 2.5 mm, 3 mm, 10 mm, 28 mm이며 IFS2406-2,5 센서는 조사되는 레이저 빔의 타입에 따라 크게 2가지 방식 (축 방향, 방사형)으로 제공됩니다.

역동적인 측정 작업에 사용하기 위한 빠른 측정 속도

confocalDT IFC2471HS 컨트롤러는 세계에서 가장 높은 측정 속도인 70 kHz를 자랑하며 고속 모니터링 작업에 주로 사용됩니다. 각 표면에 맞게 조명을 조정하기 위해 컨트롤러는 CCD 라인의 노출을 유동적으로 조절하는 데, 이러한 노출 제어는 기존의 광원 제어보다 더 빠르게 측정 타겟 반사율의 변화를 보정합니다. 그리고 이 같은 방식으로 confocalDT 컨트롤러는 빠른 속도로 측정함과 동시에 표면의 색상이 변화하는 상황에서도 우수한 정밀도로 측정합니다.

초소형 스폿을 이용한 미세한 디테일 및 구조 검출

Micro-Epsilon사의 공초점변위센서는 큰 개구수 (NA)를 이용해 3 µm 미만의 아주 작은 스폿을 생성합니다. 따라서 미세한 디테일과 구조를 아주 안정적으로 검출할 수 있습니다.

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큰 틸팅 (Tilting)각도

confocalDT IFS 센서는 최대 48°의 큰 틸팅 각도를 자랑하므로 곡률이 크거나 구조적인 표면에서도 안정적인 신호를 생성하며 측정합니다.

우수한 분해능 및 고속 컨트롤러

confocalDT 컨트롤러는 우수한 신호 대 잡음비 (Signal-to-noise ratio)를 자랑하는 만큼 아주 빠른 속도로 측정할 수 있습니다. 이들 컨트롤러는 전세계적으로 가장 빠른 컨트롤러 중 하나이며 역동적인 작업을 모니터링 할 때 주로 사용됩니다. 또한 고속 표면 보정 기능은 다양한 반사 특성을 가진 표면을 측정할 때, 특히 높은 신호 안정성을 위해 노출 사이클을 제어합니다. 그 밖에도 RS422, Ethernet, EtherCAT, 아날로그 출력 (AnalogOut)을 인터페이스로 사용할 수 있습니다.

웹 인터페이스를 통한 손쉬운 사용

인터페이스가 사용자 친화적인 구성을 띄고 있는 이유로 설정 및 구성에 있어 그 어떤 추가적인 소프트웨어가 필요하지 않고, Ethernet을 통해 웹 인터페이스에 액세스 가능하며 웹 인터페이스는 여러 다른 설정 및 구성 옵션을 지원합니다. 또한 재질과 관련한 정보는 데이터베이스에 저장되며 해당 데이터베이스는 자유롭게 확장 가능합니다.

손쉬운 설치를 위한 다양한 인터페이스

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