3D 센서를 이용한 유광 표면 검사
reflectCONTROL 센서는 반사율과 투명도가 높은 표면의 결함을 감지하는 혁신적인 솔루션을 제공합니다. 해당 센서는 위상 측정 편광계를 사용하여 표면을 전체적으로 측정합니다. 기존에 작업자가 직접 눈으로 검사하던 수작업 방식과 달리, reflectCONTROL 센서는 정밀한 측정 결과를 제공하여 표면 품질을 보다 더 자세하게 분석할 수 있습니다. 또한 효율성과 정확성을 향상시키기 위해 평가 및 파라미터 설정을 위한 강력한 소프트웨어 패키지가 제공됩니다.
유광 표면의 미세한 변형이나 뒤틀림을 3D 측정: RCS 130-160 3D HLP
특징:
- 측정 영역 170 x 160 mm
- 높은 반사율의 평평한 표면 측정
- 2D 형태의 인텐시티, 진폭, 곡률 이미지 생성
- 높은 정밀도로 높이를 측정하기 위한 3D 포인트 클라우드 출력
RCS130-160 3D HLP는 유광 대상체의 형상을 측정하는 데 사용됩니다. 센서는 스트라이프 패턴을 대상체에 투사하며, 측정 대상체의 표면에서 반사된 해당 패턴을 센서의 카메라가 캡처합니다. 센서는 대상체 표면에 대한 3D 이미지를 제공하며, 이를 통해 부품의 형상 (예: 평면도, 휨, 곡률)을 파악할 수 있습니다. RCS130 시리즈는 생산 라인에서 측정 및 검사 작업에 최적화된 제품입니다. 이 밖에도 GenICam 표준에 호환되는 데이터를 제공하는 GigE Vision 인터페이스를 갖추고 있는 특징이 있습니다.
유광 소재 대상체의 표면 검사: RCS 110-245 2D
특징:
- 측정 영역 110 x 245 mm
- 높은 반사율의 평평한 표면 측정
- 2D 형태의 인텐시티, 진폭, 곡률 이미지 생성
RCS110-245 2D는 컨트롤러가 내장되어 있는 타입으로, 고정된 측정 작업이나 기계에 통합하여 사용할 수 있도록 설계되었습니다. 해당 제품은 컴팩트한 타입으로, 유광 표면 위 이상 여부를 검사하며 이에 대한 결과는 소프트웨어에서 반사율 및 곡률 이미지로 처리, 표시됩니다. 또한 GigE Vision 기술을 이용해 표면 이미지를 다양한 이미지 처리 소프트웨어 패키지로 전송하여 추가 분석 역시 가능합니다.
RCS110-245 2D의 모든 기능은 reflectCONTROL RCS130-160 3D HLP에도 탑재되어 있습니다. 따라서 이들 제품은 표면 검사를 위한 강력한 솔루션을 제공하는 동시에 기존 시스템에 원활하게 통합될 수 있다는 이점이 있습니다.
Valid3D – 신뢰성 있는 3D 데이터 제공
Micro-Epsilon사의 3D-SDK를 이용한 소프트웨어 연동
reflectCONTROL은 쉽게 연동할 수 있는 SDK (Software Development Kit)를 탑재하고 있습니다. 본 SDK는 GigE Vision 및 GenICam 산업 표준을 기반으로 하며 다음과 같은 기능 블록을 지원합니다.:
- 네트워크 구성 및 센서 연결
- 종합적인 센서 관리
- 이미지 전송 관리
- 사용자 정의 파라미터 세트 관리
- C++ 예제 프로그램 및 문서
GenICam 클라이언트가 있는 경우 SDK를 사용하지 않고도 GigE Vision을 통해 센서에 액세스 할 수 있습니다.
인터페이스 및 신호 처리 장치
Application
