2D/3D 측정

다양한 표면 측정: surfaceCONTROL 3D 스냅샷 센서는 무광택 및 난반사 표면의 전체 영역을 비접촉식으로 아주 정확히 측정합니다. 한 번의 촬영만으로 보정된 고해상도 3D 데이터를 생성하여 형상 측정, 표면 검사 및 산업용 품질 관리에 활용할 수 있습니다.

고속 측정: 짧은 데이터 취득 및 처리 시간과 뛰어난 Z축 정확도를 바탕으로 인라인, 앳라인 또는 로봇을 이용하는 까다로운 측정 및 검사 작업에 적합합니다.

높은 호환성과 SMART 기능: 측정 대상체의 크기, 필요한 분해능, 연동 방식에 따라 다양한 모델을 선택할 수 있습니다. 컴팩트한 3D 스냅샷 센서부터 평가 기능과 측정값 직접 출력 기능이 내장된 스마트 올인원 솔루션까지 폭넓게 제공됩니다.

reflectCONTROL 센서는 반사율과 투명도가 높은 표면의 결함을 감지하는 혁신적인 솔루션을 제공합니다. 해당 센서는 위상 측정 편광계를 사용하여 표면을 전체적으로 측정합니다. 기존에 작업자가 직접 눈으로 검사하던 수작업 방식과 달리, reflectCONTROL 센서는 정밀한 측정 결과를 제공하여 표면 품질을 보다 더 자세하게 분석할 수 있습니다. 또한 효율성과 정확성을 향상시키기 위해 평가 및 파라미터 설정을 위한 강력한 소프트웨어 패키지가 제공됩니다.

Micro-Epsilon사의 레이저스캐너는 2D 및 3D 측정 기술에서 매우 높은 성능을 제공합니다. 매우 정확한 측정과 빠른 측정 속도를 동시에 구현하며, 다양한 산업 분야에서 안정적이고 반복성이 우수한 측정 결과를 제공합니다. scanCONTROL 모델은 다양한 측정 범위로 제공되며 인라인 공정에 적용하도록 설계되었습니다. 단순 프로파일 측정부터 로봇 가이던스, 표면 검사, 고정밀 3D 형상 검사까지 다양한 어플리케이션에서 안정적인 공정 운영에 필요한 정확한 측정값을 제공합니다.

New: scanCONTROL 8500 시리즈는 내장된 SMART 분석 기능을 이용해 매우 높은 성능을 제공합니다. 또한 고성능 4K 매트릭스와 최신 그린 레이저 (Green Laser)기술을 적용하여 매우 정확한 측정, 높은 신호 안정성, 동급 최고 수준의 측정 속도를 구현합니다.

정밀 측정의 새로운 기준 — Micro-Epsilon사의 레이저스캐너

새로운 confocalLINE 센서는 높은 측정 포인트 밀도와 빠른 측정 속도를 바탕으로 아주 정확한 스캔을 구현합니다. 또한 다양한 표면을 안정적으로 측정하고 정밀한 3D 데이터를 제공하므로 반도체 생산, 전자제품 제조 및 정밀 엔지니어링 분야의 까다로운 측정 작업에 적합합니다. 특히 내장형 SMART 평가 기능과 최신 필드버스 인터페이스를 통해 복잡한 측정 및 검사 작업을 센서에서 직접 처리할 수 있습니다 - 속도, 안정성, 정확성

3DInspect는 Micro-Epsilon사의 모든 3D 센서를 동일하게 지원하는 사용자 친화적인 소프트웨어 툴입니다. 3DInspect 소프트웨어를 이용해 3D 센서의 파라미터를 설정하고 측정값을 기록할 수 있습니다. 이 같이 파워풀한 툴을 이용해 포인트 클라우드의 얼라인먼트 및 필터링, 직관적인 검출 및 관련 영역 선택, 프로그램 조합이 가능합니다. 그 밖에도 3D 포인트 클라우드는 사용자의 요청에 맞게 처리되며, 측정값은 컨트롤러로 출력됩니다. 또한 3D 포인트 클라우드는 필요에 따라 처리할 수 있으며, 측정 결과는 컨트롤러로 직접 출력됩니다.

모든 2D/3D 센서를 위한 강력한 소프트웨어: 사용자 친화적, 고성능, 범용성

Micro-Epsilon사의 3D 센서는 쉽게 연동할 수 있는 SDK (Software Development Kit)를 탑재하고 있습니다. 본 SDK는 GigE Vision 및 GenICam 산업 표준을 기반으로 하며 다음과 같은 기능 블록을 지원합니다.:

• 네트워크 구성 및 센서 연결
• 종합적인 센서 관리
• 측정 이미지 전송 관리
• 사용자 정의 파라미터 세트 관리
• C++ 예제 프로그램 및 문서

GenICam 클라이언트가 있는 경우 SDK를 사용하지 않고도 GigE Vision을 통해 센서에 액세스 가능합니다.

Industrial Performance Unit은 Micro-Epsilon사의 3D 센서를 보다 효율적으로 시운전하기 위한 고성능 컴퓨팅 플랫폼입니다. Micro-Epsilon 3D 센서와 완벽하게 호환되는 본 컨트롤러는 인라인 3D 측정 작업에 매우 적합하며, 직관적인 3DInspect 소프트웨어와 Valid3D 기술을 이용해 간단하고 신속하게 센서 파라미터를 설정하여 측정을 즉시 시작할 수 있습니다. Industrial Performance Unit은 3차원 데이터를 직접 처리한 뒤 3DInspect 소프트웨어를 통해 평가 및 분석됩니다. 이후 결과는 내장된 PROFINET, EtherCAT 및 EtherNet/IP 인터페이스를 통해 출력됩니다.

3D 프로파일 유닛은 여러 scanCONTROL 30xx 센서의 개별 프로파일을 공통 좌표계에서 연산할 수 있습니다. 이를 통해 합성 2D 프로파일이나 합성 3D 포인트 클라우드를 생성할 수 있습니다. 또한 다양한 형상 검출, 측정 범위 확장 및 두께 측정이 가능하며, 센서와 측정 대상체의 위치를 정확하게 맞추기 위해 내장된 인코더 입력을 사용할 수 있습니다.

데이터 평가 및 시스템 파라미터 설정은 3DInspect 소프트웨어에서 수행할 수 있습니다. 3D 프로파일 유닛 컨트롤러는 산업용 Ethernet 연결과 결합된 내장 평가 기능을 통해 응용 프로그램을 제어하고 측정값을 PLC로 출력할 수 있습니다. 또는, 3D 프로파일 유닛 컨트롤러는 GigE Vision을 통해 일반적인 영상 처리 프로그램에 통합될 수 있으며 로우 데이터 (Raw data) 공급자의 역할을 수행할 수도 있습니다.

Micro-Epsilon사의 광학 마이크로미터는 레이저가 대상체를 투과하는 원리 (투과형 마이크로미터)를 따라 작동합니다. 발광부는 렌즈 배열을 따라 수광부로 전송되는 평행 라이트 커튼을 생성합니다. 만일 대상체가 레이저 경로에 위치한 경우 레이저를 일부 가로막게 되고 이후 수광부는 음영을 감지하여 이를 측정값으로 출력합니다. 대부분의 광학 마이크로미터는 생산, 기계 모니터링 및 품질 보증 단계에서 치수를 측정하는 데 사용됩니다. 그 밖에도 직경, 갭, 높이, 위치 등을 높은 정확도로 검출합니다.